Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası (Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisi Kitap: 2) Prof. Dr. Habip Asan, Dr. Ayben Işılay Özdoğan  - Kitap

Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası

(Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisi Kitap: 2)

1. Baskı, 
Eylül 2021
Kitabın Detayları
Dili:
Türkçe
Ebat:
17x25
Sayfa:
209
Barkod:
9786057422330
Kapak Türü:
Ciltli
Fiyatı:
445,00
Temin süresi 2-3 gündür.
Kitabın Açıklaması
Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.
Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.
(Tanıtım Bülteninden)
Yorumlar